由于应用越来越广泛,各种类型的光谱仪也越来越追求提高分析的准确性。我们还需要仔细分析x射线荧光分析过程中的错误,并尽量避免导致错误的相关因素。
一般来说,光谱仪误差的主要原因是操作、仪器、样品本身等。
例如,研磨时间和压力没有设置,不能满足研磨粒度或相应的材料分布的要求,或压片板(或压片头)不干净,导致分析表面不光滑,从而影响测量结果。
随着时间的延长,X射管内部元件的尺寸和位置的变化也会导致初级X射线强度的变化,或者X射线管的阳极有斑点,目标元素沉积在窗口中,给分析结果带来误差。
此外,测量结果的误差是由于试样的不均匀性效应、基体效应和谱线干扰因素造成的。
要避免这些错误,需要做的几点措施是:
1.应对样品进行研磨和压实,以减少样品的不均匀性。
2.选择无干扰的光谱线。降低电压至干扰元素的激发电压,选择合适的分光晶体、计数器、准直器或调整脉冲高度分析器、提高分辨率能力,在分析晶体和探测器之间放置滤光器,过滤或削弱干扰光谱线。
3.严格按照仪器设备管理办法安装,调试好仪器设备,避免出现仪器误差。
4.严格按照操作规程操作,避免人为操作错误。
做到以上几点,你的光谱仪就能达到高分析精度,效果好。
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