光谱测量的基础是测量光辐射与波长的对应关系：
一般来说，光谱测量的直接结果是由许多离散点组成曲线，每个点的水平坐标（X轴)是波长、纵坐标（Y轴)是波长处的强度。因此，光谱仪的性能大致可分为以下几类：
波长范围（X轴上可测量的范围）；
波长分辨率(在X轴上可以分辨出信号变化的程度)；
噪声等效功率和动态范围(Y轴上可测量的范围)；
灵敏度与信噪比(Y轴上能区分到什么程度的信号变化)；
杂散光和稳定性(信号测量是否可靠?是否可重现);
采样速度和时序精度(一秒钟能收集多少个完整的光谱？收集光谱的时间准确吗？
光谱测量的基础是测量光辐射与波长的对应关系。
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